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電路分析

首頁 產(chǎn)品與技術(shù) 泛模擬設(shè)計類EDA

NanoYield

高西格瑪良率分析解決方案

良率仿真 High-Sigma算法 圖形化界面

NanoYield是概倫電子自主研發(fā)的全集成良率導(dǎo)向設(shè)計平臺。

  • 基于概倫獨特的統(tǒng)計模型技術(shù)和high-sigma統(tǒng)計分析算法而打造。

  • 通過高效精準(zhǔn)的統(tǒng)計算法和并行加速技術(shù)對統(tǒng)計電路仿真的性能進(jìn)行無損精度的加速，對各種類型的電路包括存儲器/數(shù)字電路/模擬電路等進(jìn)行良率分析和設(shè)計優(yōu)化。

  • 含有友好的電路設(shè)計分析環(huán)境，通過強(qiáng)大的圖形化界面幫助用戶在較短的時間內(nèi)評估良率并可根據(jù)設(shè)計目標(biāo)進(jìn)行電路優(yōu)化。

  • 提高芯片設(shè)計的一次成功率，優(yōu)化芯片性能、提升良率從而提升產(chǎn)品競爭力。


下載產(chǎn)品單頁

產(chǎn)品亮點

  • 全集成

    內(nèi)置SPICE引擎和高效精準(zhǔn)的統(tǒng)計算法

  • 高性能

    支持快速 PVT/ 蒙特卡羅/ 高西格瑪分析功能

  • 全并行

    支持單機(jī)多核/服務(wù)器集群/公有云的并行加速

  • 硅精準(zhǔn)

    經(jīng)40/28/14/7/5nm工藝節(jié)點驗證

  • 超經(jīng)濟(jì)

    并行仿真授權(quán)模式，經(jīng)濟(jì)高效

  • 易使用

    友好的圖形界面方便查看和處理良率分析結(jié)果

產(chǎn)品應(yīng)用

  • 存儲器單元和陣列
    良率預(yù)測和優(yōu)化

  • 模擬/數(shù)字電路
    良率預(yù)測和優(yōu)化

  • 代工廠/IDM公司
    SRAM良率提升

  • 快速PVT應(yīng)用于
    需大量工藝角仿真電路

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